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IDT7014S
High-Speed 4K x 9 Dual-Port Static RAM
Industrial and Commercial Temperature Ranges
DC Electrical Characteristics Over the Operating
Temperature and Supply Voltage Range (V CC = 5V ± 10%)
7014S12
Com'l Only
7014S15
Com'l Only
Symbol
Parameter
Test Condition
Version
Typ.
Max
Typ.
Max
Unit
I CC
Dynamic Operating
Current
Outputs Open
f = f MAX (1)
COM'L
S
160
250
160
250
mA
(Both Ports Active)
IND
S
____
____
____
____
2528 tbl 05a
7014S20
Com'l & Ind
7014S25
Com'l Only
Symbol
Parameter
Test Condition
Version
Typ.
Max
Typ.
Max.
Unit
I CC
Dynamic Operating
Current
Outputs Open
f = f MAX (1)
COM'L
S
155
245
150
240
mA
(Both Ports Active)
IND
S
155
260
____
____
2528 tbl 05b
NOTES:
1. At f = fmax, address inputs are cycling at the maximum read cycle of 1/t RC using the "AC Test Conditions" input levels of GND to 3V.
AC Test Conditions
Input Pulse Levels
GND to 3.0V
5V
5V
Input Rise/Fall Times
Input Timing Reference Levels
3ns Max.
1.5V
DATA OUT
893 ?
DATA OUT
893 ?
Output Reference Levels
1.5V
347 ?
30pF
347 ?
5pF*
Output Load
Figures 1,2 and 3
2528 tbl 06
Capacitance (1)
(T A = +25°C, f = 1.0MHz) TQFP Package Only
2528 drw 04
Figure 1. AC Output Test Load.
2528 drw 05
Figure 2. Output Test Load
(for t HZ , t WZ , and t OW )
*Including scope and jig.
,
Symbol
Parameter
Conditions (2)
Max.
Unit
C IN
C OUT
Input Capacitance
Output Capacitance
V IN = 3dV
V OUT = 3dV
9
10
pF
pF
8
7
- 10pF is the I/O capacitance
of this device, and 30pF is the
AC Test Load Capacitance
6
2528 tbl 07
NOTES:
1. This parameter is determined by device characteristics but is not production
tested.
2. 3dv references the interpolated capacitance when the input and output signals
swith from 0V to 3V or from 3V to 0V.
t AA
(Typical, ns)
5
4
3
2
1
0
20 40 60 80 100 120 140 160 180 200
-1
Capacitance (pF)
,
2528 drw 06
Figure 3. Typical Output Derating (Lumped Capacitive Load).
4
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